二手安捷倫等離子質譜 ICP-MS7500最先出現(xiàn)在北京京科瑞達科技有限公司。
]]>安捷倫7500系列具有自動化的易于使用、靈活性、可靠性以及優(yōu)秀的設計，它提供了高水平的分析性能。新的7500系列可配備第二代八級桿反應池（ORS）技術，提供多種選擇的進樣附件、更好的應用與維修服務支持，它正在使得實驗室進入ICP-MS時代；
二手安捷倫等離子質譜 ICP-MS7500應用領域：
● 環(huán)境樣品分析，包括自來水、地表水、地下水、海水以及各種土壤、廢棄物等的分析；
● 半導體材料分析
● 玻璃、陶瓷和礦冶等樣品分析；
● 地質學研究；
● 生物食品及醫(yī)藥臨床研究；
● 核材料分析
● 石油化工樣品分析；
● 法醫(yī)應用與研究；
● 最近，與分離技術聯(lián)用進行環(huán)境毒理、生命科學等領域的元素價態(tài)、形態(tài)分析成為ICP-MS技術應用的一個焦點
二手安捷倫等離子質譜 ICP-MS7500分析特性：
● 可快速同時檢測周期表上幾乎所有元素
● 低檢出限（低至ppq級）
● 分析效益/成本比更佳
● 寬線性動態(tài)范圍—可直接檢測從ppq到數(shù)百ppm濃度
● 譜線簡單、干擾小，準確度和精密度好
● 需要樣品量很低（ul至ml），分析速度很快（1——3分鐘/樣品）
● 檢測模式靈活多樣
半導體工業(yè)常用材料中超痕量污染物分析：
固體：Si;GaAa單晶切片；石英、碳化硅等爐材料；高純金屬電極等
Agilent ICP-MS可直接分析有機樣品：
Agilent ICP-MS的高效能、高功率屏蔽矩冷等離子體技術已被用于測定一系列有機樣品的ppt級痕量污染元素。
● 對其中一些樣品，其他方法無法得到滿意的結果，高功率屏蔽矩冷等離子體技術是*一種分析方法。
● 強堿性清洗劑——四甲基氫氧化氨（TMAH）等
● 高基體樣品——光刻膠、液晶、BPSG、PSG等揮發(fā)性極強的清洗劑
二手安捷倫等離子質譜 ICP-MS7500最先出現(xiàn)在北京京科瑞達科技有限公司。
]]>二手安捷倫等離子體質譜儀 ICP-MS7700最先出現(xiàn)在北京京科瑞達科技有限公司。
]]>二手安捷倫等離子體質譜儀 ICP-MS7700 作為安捷倫7500 系列ICP-MS的繼承者，7700性能在各方面更勝一籌：分析速度更快、操作更簡便、靈敏度更高、背景噪音更低、消干擾效果更佳、應用面更廣、維護更方便。7700x具有適應多種樣品類型、應用范圍廣泛、性能穩(wěn)定耐用的特點，是大多數(shù)常規(guī)實驗室和分析大批量樣品的商業(yè)實驗室的上佳選擇。7700s 則是專為半導體行業(yè)應用而設計，具有半導體針對性的強大功能。這兩種型號都具有高強的性能和易于使用的優(yōu)點，即使您面對的是棘手的樣品基體，它們都能為您獲取值得信賴的分析結果。
7700系列ICP-MS不但配置了新的軟件平臺，而且在儀器硬件方面也進行了革新設計，包括全新數(shù)字控制式射頻匹配的RF發(fā)生器和第三代八極桿碰撞/反應池系統(tǒng)(ORS3)。安捷倫7700x ICP-MS 憑借第三代碰撞/ 反應池(ORS3) 為復雜高基體樣品的分析提供了高準確性，它重新定義了碰撞/反應池：僅使用氦氣碰撞即可消除所有可能的質譜干擾！
1.靈敏度：
低質量數(shù) Li(7): 50 Mcps/ppm；
中質量數(shù) Y(89): 60 Mcps/ppm（7700x)； 240 Mcps/ppm(7700s) ；
(高質量數(shù) Tl(205): 80 Mcps/ppm(7700x)； 120 Mcps/ppm(7700s)；
根據(jù)用戶特殊需求，如激光、核工業(yè)、半導體材料等應用，可提供高強靈敏度功能
2.檢測限：
低質量數(shù) Be(9): 0.5 ppt；
中質量數(shù) In(115): 0.1 ppt
高質量數(shù) Bi(209): 0.1 ppt
3.氧化物干擾: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x)； 3.0 %(7700s)；
4.雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:3.0 %
5.同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%
6.質譜范圍：2 – 260 amu；
7.豐度靈敏度
低質量端: 5 x 10-7
高質量端: 1 x 10-7
尺寸非常小的ICP-MS
靈敏度非常高的碰撞池-第三代ORS3
純 He 氣碰撞池：只用He氣就可以消除所有干擾。
耐高鹽的ICP-MS: HMI技術（TDS>3%）
ICP離子源技術：數(shù)字控制式諧頻ICP發(fā)生器
有機溶劑進樣不熄火！
分析速度快：ISIS-DS技術
容易維護和清洗
強大的色譜聯(lián)機功能：一體化
功能強力的軟件：MassHunter系統(tǒng)，實現(xiàn)實時QA/QC
偏移標示，自動化控制等
二手安捷倫等離子體質譜儀 ICP-MS7700最先出現(xiàn)在北京京科瑞達科技有限公司。
]]>二手PE等離子體質譜儀 NexION 300最先出現(xiàn)在北京京科瑞達科技有限公司。
]]>二手PE等離子體質譜儀 NexION 300的穩(wěn)定性、靈活性和性能在電感耦合等離子質譜儀非常出彩 ，儀器具有3種操作模式（標準、碰撞、反應），并且可以從一種模式快速切換到另一種模式。這樣，就可以在同一臺儀器上執(zhí)行所有分析。它是一款可在不犧牲靈敏度或性能的情況下達到更大效率的電感耦合等離子質譜操作系統(tǒng)。它兼具碰撞池的簡單便捷和真實反應池的檢出限，是一款具有出彩功能的電感耦合等離子體質譜系統(tǒng)。
結合三錐接口和四極桿式離子偏轉器實現(xiàn)了更高的可靠性。這一創(chuàng)新的離子通道可去除大量的未離子化物質（防止其進入通用池），在保持儀器清潔的同時，還能減小漂移，省去池的清潔操作。NexION 300Q型電感耦合等離子體質譜儀能為你提供理想的解決方案，操作簡單。
1、采取雙模式（模擬/數(shù)字探測器）
2、具有非常大的樣品引入系統(tǒng)
3、少量液體攝取霧化器
4、自由運行的射頻等離子體發(fā)生器
5、自動X，Y，Z軸火炬定位
6、采用PlasmaLok技術
7、快速的四極桿式掃描技術
8、采用多功能細胞技術
9、采用四極桿式離子偏轉器
10、等離子視圖窗口
11、采取四極桿式的真空系統(tǒng)
12、臺式設計
二手PE等離子體質譜儀 NexION 300最先出現(xiàn)在北京京科瑞達科技有限公司。
]]>二手PE等離子體質譜儀 DRC-e最先出現(xiàn)在北京京科瑞達科技有限公司。
]]>自ELAN 6100 DRC 動態(tài)反應池技術贏得匹茲堡會議金獎以來的第三代DRC產(chǎn)品。
動態(tài)反應池（DRC）技術采用與反應池中氣體的化學反應大程度地消除了Fe、Ca、K、As、Se等分析物受到的干擾，并同時保證了這些分析物的有效傳輸，因而能得到更佳的檢出限，就抗干擾能力而言，是目前可以與高分辨率質譜相媲美的技術。
DRC中的軸向場（AFT）技術，改善了離子在反應池中的傳輸，提高分析速度，降低復雜樣品的基體效應。
新推出的DRC-e同樣采用反應池，專門針對地質樣品、冶金樣品、環(huán)境樣品等的分析而設計。
動態(tài)反應池（DRC）是內有一個四極桿系統(tǒng)的反應池。與中階梯分光ICP-OES相似，DRC-ICP-MS具有雙四極桿質量分析器，即ICP-MS-MS，DRC部分進行化學反應并與主四極桿同步掃描實現(xiàn)離子初步選擇和過濾，大大延長了ICP-MS主四級桿質量分析器的壽命，提高了ICP-MS的性能和靈活度。
1.兩個機械泵兩個分子渦輪泵，抽氣速率：>380L/min
2.分辨率：0.3——3amu，在同一方法中在線可調（AutoRes?），可在運行中對不同離子選用不同分辨率（自動調節(jié)），擴展分析濃度范圍和提高靈敏度。
3.線性范圍：9個數(shù)量級。
4.DRC技術可以使用H2，He，CH3，NH3，O2，N2O，CO2等氣體中的任何一種氣體。
5.DRC技術消除干擾的能力優(yōu)于7個數(shù)量級。
6.化學分辨率>150,000，可以消除87Sr-87Rb（分開兩離子需要的分辨率287,000），204Hg-204Pb（450,000）等干擾的技術。
7.分析107Ag/109Ag 的同位素比分析精密度優(yōu)于<0.08%RSD的技術。
1.ELAN 9000/DRC-e的標準配置進樣系統(tǒng)為耐腐蝕、高鹽的GemClean?的十字交叉霧化器和Ryton? 高分子惰性材料的Scott雙通道霧化室，用HF等消解的土壤、地質、環(huán)境、冶金樣品可以不經(jīng)過趕HF酸而直接進樣分析。霧化器的使用壽命在3年以上。整個進樣系統(tǒng)30秒內清洗效率在1000倍以上。
2.采樣錐和截取錐錐孔設計，確保長時間分析高鹽分的樣品而錐孔不會堵塞。同時配備容量更大的真空泵，儀器冷啟動的時間不超過10分鐘。
3.自動軌道定位EasyGlide?技術，無需每天進行炬管位置優(yōu)化。
4.主機內置40.68MHz 自激式射頻發(fā)生器，功率穩(wěn)定，適用于各種類型的無機樣品和有機樣品分析。
5.PlasmaLokTM ICP-MS接口技術，完全消除接口處的二次電弧放電，保證等離子體穩(wěn)定，延長采樣錐壽命。
6.AutoLensTM離子透鏡偏壓自動選擇技術
7.動態(tài)反應池（DRC）技術
8.SimulScanTM同步掃描技術
二手PE等離子體質譜儀 DRC-e最先出現(xiàn)在北京京科瑞達科技有限公司。
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